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硅晶圆薄膜

Filmetrics 提供台式系统, 测绘, 和生产测量 1nm 到 2mm 硅晶片和膜厚仪器系统。

厚度范围* 应用 仪器型号
1nm - 200µm 单点 F20
0.1µm - 2mm 单点 F70-NIR
3nm - 200µm 厚度测绘 F50
0.1µm - 2mm 厚度测绘 F50-CTM-NIR
1nm - 200µm 全自动晶圆盒式测绘 F60-c
100µm - 2mm 全自动晶圆盒式测绘 F60-c-CTM-NIR
*厚度范围取决于仪器,选项,和测量材料。

联络 Filmetrics 讨论您的测量需要。

Filmetrics 提供 免费测试 - 一般 1-2 天得到结果。