测量范围

材料： 至少部分透明的薄膜， 加上所有的半导体 (透明或不透明)。 薄膜在外观上至少要有某种程度的光泽。

厚度范围: 测量从 1nm 到 13mm 的厚度。 测量 70nm 到 10um 薄膜的折射率。

能够测量厚度高于10nm的薄膜折射率 （这也取决于材料本身）

可测量的层数: 通常能够测量薄膜堆内的三层独立薄膜。 在某些情况下，能够测量到十几层。

基板材料: 如果薄膜位于粗糙基板 (大多数金属) 上的话，一般不能测量薄膜的折射率。 此外，粗糙基板还将最低的可测量薄膜厚度限制为大约 50nm。

所需的信息: 必须了解样品中所有薄膜的顺序、名称和标称厚度，不管它们是否有待于测量。

联络我们的薄膜专家来讨论您的测量需要。

Filmetrics提供免费测试 - 一般在 1-2 天得到结果。.