F70 系列

F70系列是通用的厚度测量仪器，能够测量厚度达13毫米的薄膜。常见的应用包括玻璃，塑料板材，镜头，容器，和半导体晶圆。

普通F70用于测量透明材料，F70-NIR测量半导体材料。厚度范围由镜头和软件选择决定（详见数据表）。

厚度在一秒钟内测得。和其它Filmetrics厚度测量仪器一样，F70用USB与您的Windows™电脑连接，并在几分钟内完成设置。